4 포인트 프로브

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Bridge Technology

 

 
Four-Point-Probes

 

Four-Point Probes for a Broad Range of Resistivity Measurement Applications.
Tel: 02-868-8787                  Fax: (82) 2- 868-0664                                   E-mail: tok61@naver.com                                             

 

  4 포인트 프로브

SRM Sheet Resistance Meter with Four Point Probe

Gurdian
The SRM-232 Sheet Resistance Meters are low-cost hand-held sheet resistance testing systems that include a meter and a four-point probe for use in measuring the sheet resistance of applied coatings such as conductive paints, EMI coatings, ITO on glass, etc. Applications for the instruments include measuring the sheet resistance of conductive paint on Low Observable Aircraft to verify uniform paint thickness, measuring the sheet resistance of EMI paint applied to computer chassis, measuring the sheet resistance of ITO on glass used in flat panel displays, and measuring many other types of conductive coatings.

  • 127 internal data point storage capability.
  • Light, portable, hand-held design.
  • RS-232 interface for remote data transfer.
 
4포인트프로브,4 point probe,표면저항측정기, 표면저항측정기,4포인트프로브,four point probe

 

The SRM-232 units are available in four measurement ranges

SRM-232-10  (Gurdian)
  • Range: 0.000 to 9.999 ohms/square.
  • Resolution: 0.004 ohms/sq.
  • Accuracy: 0.01 ohms/sq. @ 1.00 ohm/sq.

SRM-232-100  (Gurdian)
  • Range: 00.00 to 95.00 ohms/square. (Gurdian)
  • Resolution: 0.04 ohms/square
  • Accuracy 0.07 ohms/square @ 10.00 ohms/square.

SRM-232-1000  (Gurdian)
  • Range: 0 to 1000 ohms/square.
  • Resolution: 0.4 ohms/sq.
  • Accuracy: 0.7 ohms/sq. @ 100 ohm/sq.

SRM-232-2000  (Gurdian)
  • Range: 0 to 2000 ohms/square.
  • Resolution: 0.8 ohms/sq.
  • Accuracy: 1.4 ohms/sq. @ 1000 ohm/sq.

특징 :

SRM-232는 전도성 도료나 금속막의 시트 저항을 간단하게 측정할 수 있는 4침(깊은 침)방식의 표면저항측정기
(4 포인트 프로브)입니다.

본체는 한 손으로 들 수 있는 컴팩트 사이즈로 전원으로는 전지를 사용 하고 있어 휴대할 수가 있고 대형 시험물의 측정도 손 쉽게 할 수 있습니다.

 

     

 하기 사이트 스팩외 다른 스팩을 원하시면 이메일로 보내 주시면 감사하겠습니다.

 SR-4-6L

- True Vertical Lever Up/Down

- Lever Up/Down: 20mm

- Head Fine Up/Down by Knob (Resolution: 10um)

- Individual Constant Spring Loaded Pin

- Probe Head E-Z Changeover

- Feedthru Panel at Rear Side

- Feedthru Choice as Banana/BNC Connection

(Option: Triaxial Feedthru)

- Dimension: 220mm(W)x420mm(D)x250mm(H)

- 4 Point Probe Head

- Material: SK-4

- Plating: Nikel and Gold

- Spacing: 1mm

- Spring Load: 140grams

 

SRS-4

- True Vertical Lever Up/Down

- Lever Up/Down: 35mm

- Individual Constant Spring Loaded Pin

- Probe Head E-Z Changeover

- Feedthru Choice as Banana/BNC Connection

(Option: Triaxial Feedthru)

- Dimension: 4000mm(W)x400mm(D)x250mm(H)

- 4 Point Probe Head

- Material: SK-4

- Plating: Nikel and Gold

- Spacing: 1mm

- Spring Load: 140grams

 

 TEL : 02-868-8787 (代)            

 

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<4탐침측정기> K-705 R
4포인트프로브,4 point probe,표면저항측정기, 표면저항측정기,4포인트프로브,four point probe
측정 방식 직류 4탐침법
측정 항목 Ω-cm
측정 범위 0.01~99.99(1 레인지)
데이터 표시 패널 99.99(MAX)~0.01(MIN)
HI표시(임의 설정)
LO표시(임의 설정)
전원 입력 AC100V/1A
외형 치수 W×D×Hmm
중량 약kg

 

<4탐침측정기: 저저항측정기> K-705 RS
4포인트프로브,4 point probe,표면저항측정기, 표면저항측정기,4포인트프로브,four point probe
측정 방식 직류 4탐침법
측정 항목 Ω/□,V/I,Ω-cm
측정 범위 Ω/□;10μ~5M,V/I,Ω-cm;1μ~500 K
두께 보정 0.1μm
F2보정(프로브가 경계에 직각) 0.1 mm~9.9 mm
F3보정(프로브가 경계에 평행) 0.1 mm~9.9 mm
데이터 표시 패널 5자리수, F.S5000,문자고 15 mm
측정 오차 0.5% 이내
인가 전류 Ω/□:453.2 mA~453.2nA
V/I:1000 mA~1000nA
Ω-cm:628.3 mA~628.3 nA
프린터 출력 센트로닉스 사양
컴플리언스 전압 60V,50 V~30 V가변(전환해)
소비 전력 약 100 W
전원 입력 AC100V/2A
외형 치수 W312×D330×H155mm
중량 약 7 kg

 

<측정 발판> K-504 RS간이형
K-504 RS간이형
최대 시료 치수 135mm□
Z축이동 40mm 락 피니언식
침압조정 웨이트 가감 방식
치수 W190×D250×H250
중량 약 3.5 kg

 

<측정 발판> K-503 RX100
K-503 RX100
최대 시료 치수 4인치φ
시료 고정 진공 흡착법
XY축이동 100mm
Z축이동 8mm 레버식
θ축이동 360о
침압조정 웨이트 가감 방식
치수 W220×D300×H330mm
중량 약 6 kg

 

<측정 발판> K-503 RX150
K-503 RX150
최대 시료 치수 6인치φ
시료 고정 진공 흡착법
XY축이동 100mm
Z축이동 8mm 레버식
θ축이동 360о
침압조정 웨이트 가감 방식
치수 W300×D420×H430mm
중량 약 11 kg

 

<측정 발판> K-505 RB300
K-505 RB300
최대 시료 치수 12인치φ/300mm□
XY축이동 300mm
Z축이동 8mm 레버식
침압조정 웨이트 가감 방식
치수 W400×D460×H350mm
중량 약 17.5 kg

 

 

<측정 발판> K-505 RB400
K-505 RB400
최대 시료 치수 14인치φ/400mm□
XY축이동 400mm
Z축이동 8mm 레버식
침압조정 웨이트 가감 방식
치수 W500×D560×H350mm
중량 약 22 kg

 

 마이크로 프로브

본기는 미세한 반도체 wafer·프린트 기반이나 각종 재료의 전기적 특성을 측정하기 위한 프로빙을 목적으로 하는 장치입니다.
미세한 어프로치가 뛰어나 각종 포지션용 매니퓰레이터(manipulator)·프로브·현미경·쉴드 케이스등의 편성에 의해 고객의 요구에 대응하겠습니다.
마이크로프로브, micro probe, <K-157MP간이형>

샘플 사이즈~4 인치φ

<K-157MP150간이형>

샘플 사이즈~6 인치φ

<K-160MP>

샘플 사이즈~4 인치φ

<K-160MW>

샘플 사이즈~4 인치φ

<K-160MPH/MWH>

샘플 사이즈~4 인치φ
히터 스테이지


<K-163MW1>

샘플 사이즈~6 인치φ
상하동전동 수동 양용 타입

소개하고 있는 제품 이외에도 세미 오토 타입, 홀 효과 측정용등도 갖추고 있습니다.

<K-15MT> <K-15MTS> <K-15MX>
X,Y,Z축미동 5mm 250μm/1회전
Y축조동 16mm
θ축조동 90о
X,Y,Z축미동 기구 개미 틈 기구
치수 약W 38×D 120×H 65 mm
중량 약 260g
X,Y,Z축미동 6mm 250μm/1회전
Y축조동 16mm
θ축조동 90о
X,Y,Z축미동 기구 슬라이드 베어링 기구
치수 약W 55×D 130×H 73 mm
중량 약 400g
X,Y,Z축미동 10mm 500μm/1회전
X,Y,Z축초미동 1mm 20μm/1회전
X,Y,Z축미동 기구 슬라이드 베어링 기구
치수 약W 90×D 130×H 86 mm
중량 약 700g

<L타입> <LL타입> <BNC타입>

재질 형식 치수 침처 R
텅스텐 카바이트 KM2 30mmL×0.7φ×10о
텅스텐 카바이트 KM5 30mmL×0.7φ×10о
텅스텐 카바이트 KM10 30mmL×0.7φ×10о 10μ
텅스텐 카바이트 KM30 30mmL×0.7φ×10о 30μ
텅스텐 카바이트 KM50 30mmL×0.7φ×10о 50μ
KM30Ag 30mmL×0.7φ×10о 30μ
백금 KM30Pt 30mmL×0.7φ×10о 30μ

<사용예>

 

 

 TEL : 02-868-0661 (代)            

 

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